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            膜厚仪所独具的特点以及测量时需要注意的参数设置

            作者:上海全耀仪器设备有限公司  上传日期:2016年09月30日    浏览次数:

              膜厚仪属于一种薄膜厚度测量仪器,在很多的行业领域都得到了重要的应用,方便了人们的很多测量工作,那么大家对它到底有着哪些了解呢?下面在本文中就来做个具体的介绍吧。

              <1>膜厚仪的特点

              1.测量范围广泛

              膜厚仪的测量范围非常广泛,从薄膜到厚膜都可以进行厚度测量,不会因为测量材料的变化而给厚度测量作业带来不便。

              2.厚度分析方式先进

              膜厚测量仪的厚度分析方式采用了国际上先进的绝对反射率光谱分析方式,与其它类型的厚度测量仪器在测量精度以及测量速度上都有着显著的优势。

              3.操作简单

              膜厚仪采用了人性化的设计,使得仪器对于薄膜厚度的测量工作更加简便,无需繁复的测量操作,相关的测量人员只需进行简单的培训即可操作设备。

              4.外观新颖

              膜厚测量仪的外观也进行了全新的设计,整体更加别致和新颖,相比较于传统厚度测量仪器呆板的外形,更加吸引人们的眼球。

              5.实现光学常数解析功能

              膜厚仪突破性的采用了非线性最小二乘法来作为光学数据分析方法,实现了对于光学常数进行解析,不仅提快了厚度的测量时间,更加提高了其精准性,给人们提供更加精准的薄膜厚度测量数据。

              <2>膜厚仪的测量参数

              1.测量波长

              膜厚仪的测量波长在450nm至780nm之间,较为宽泛的波长测量范围能够实现更加迅速的光学厚度测量作业流程。

              2.测量精度

              该测量仪的测量精度在上下0.2nm的误差范围,已经是同类型测量仪中精度非常高的类型,可以迅速有效的测量各种类型薄膜。

              3.卤素灯

              膜厚仪的光源采用了卤素灯,不仅可以提供丰富的光源照明,还会减少对眼睛的伤害,非常人性化的设计。

              关于膜厚仪的特点以及测量参数暂时就跟大家介绍到这里,希望通过这些信息能够加深大家对它的认识。大家有任何关于这方面的疑问,请随时与我们取得联系,我们争取帮助大家解决疑问。

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